BGA LGA
概要
BGA(Ball Grid Array)は、出力端子をはんだボールのマトリクス配列として配置する IC パッケージです。BGA の配線は主に BT 系積層基板またはポリイミド系フィルム基板上に形成され、基板全面を活用した高密度配線が可能です。
従来、リード数の増加に伴い、周辺リード型パッケージでは電気的ショートなどの問題が発生しやすくなっていましたが、BGA 技術は、パッケージ底面にバンプまたははんだボールとして端子を形成することで、これらの課題を効果的に解決します。
BGA パッケージは、高I/O数、高性能、高い放熱性および電気特性が要求される用途に適しています。
パッケージ構成
| ボディサイズ(mm) |
3 × 3 ~ 12 × 12(正方形/長方形) 主なサイズ:5 × 5、6 × 6、7 × 7、8 × 8、9 × 9、10 × 10、12 × 12 |
| ボール数 | 26 ~ 289 |
| ボールピッチ(mm) | 0.40 ~ 0.65 |
| 標準パッケージ厚み | LFBGA:最大 1.40 mm TFBGA:最大 1.20 mm VFBGA:最大 1.00 mm WFBGA:最大 0.80 mm |
特長
- 3 × 3 mm ~ 12 × 12 mm までの柔軟なボディサイズ対応
- ボールピッチ:0.40 / 0.50 / 0.65 mm
- モールドキャップ厚み:0.45 / 0.54 / 0.70 mm 対応
- Au ワイヤ(0.7 / 0.8 / 0.9 / 1.0 mil)および Cu ワイヤ対応
- マルチダイおよびスタックダイ実装対応
- グリーンパッケージ対応
- 基板層数:2 層/4 層対応
- JEDEC 規格準拠
- パッケージおよび基板の社内設計能力
- 社内一貫の組立・最終試験対応
梱包形態
JEDEC トレイ
テープ&リール
信頼性評価
| 耐湿レベル(MSL) | JEDEC MSL 3(30°C / 60% RH / 192 時間) |
| 温度サイクル試験(TC) | -65°C ~ +150°C、500 サイクル |
| プレッシャークッカー試験(PCT) | 121°C、100% RH、2 atm、168 時間 |
| 高温保存試験(HTS) | 150°C、500 時間 |

